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使用側視攝像頭揭示隱藏缺陷
來源: Test Research, Inc. (TRI)作者: Test Research, Inc. (TRI)時間:2026-04-04 05:08:59點擊:2171

在當今電子製造業對精確度和質量的不懈追求中,自動光學檢測(AOI)係統中的多攝像頭側視檢測開創了SMT檢測實踐的卓越新時代。這些AOI係統超越了傳統的上視攝像頭,采用了超過兩個攝像頭,例如四個策略性放置的側視攝像頭,捕捉前、後、左zuo和he右you的de視shi角jiao,以yi及ji上shang視shi攝she像xiang頭tou的de視shi角jiao。多duo個ge視shi角jiao的de綜zong合he利li用yong顯xian著zhu減jian少shao了le盲mang點dian,使shi得de能neng夠gou檢jian測ce到dao通tong常chang由you上shang視shi攝she像xiang頭tou視shi線xian逃tao脫tuo的de隱yin藏zang缺que陷xian。側ce視shi攝she像xiang頭tou賦fu予yu了le平ping台tai檢jian查zha內nei部bu層ceng橋qiao、隱藏的翹起引腳以及通常忽視的其他瑕疵的能力。

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1-前視 2-後視 3-右視 4-左視側視檢測


多攝像頭側視檢測

電子製造業的發展不斷推動著邊界,給製造商帶來了越來越複雜的挑戰。在重要的突破中,重塑SMT檢測實踐的是引入多攝像頭側視檢測。在印刷電路板(PCBs)上(shang)製(zhi)造(zao)密(mi)集(ji)組(zu)件(jian)是(shi)一(yi)項(xiang)艱(jian)巨(ju)的(de)任(ren)務(wu),組(zu)件(jian)的(de)完(wan)整(zheng)性(xing)至(zhi)關(guan)重(zhong)要(yao)。即(ji)使(shi)是(shi)微(wei)小(xiao)的(de)缺(que)陷(xian)也(ye)可(ke)能(neng)導(dao)致(zhi)電(dian)子(zi)設(she)備(bei)故(gu)障(zhang)和(he)昂(ang)貴(gui)的(de)召(zhao)回(hui)。傳(chuan)統(tong)的(de)上(shang)視(shi)檢(jian)測(ce)方(fang)法(fa)曾(zeng)經(jing)可(ke)靠(kao),但(dan)現(xian)在(zai)很(hen)難(nan)檢(jian)測(ce)到(dao)內(nei)部(bu)層(ceng)橋(qiao)和(he)翹(qiao)起(qi)引(yin)腳(jiao)等(deng)隱(yin)藏(zang)缺(que)陷(xian)。


揭示隱藏缺陷

從不同角度觀察PCB使側視攝像頭能夠超越上視攝像頭的限製。這種能力確保了全麵的檢查,即使是對於密集的PCBA也不會漏掉隱藏的缺陷。例如,在汽車行業,側視攝像頭精確地檢測到控製單元中表麵貼裝的集成電路(IC)下麵的翹起引腳,確保了在集成到汽車電子模塊中之前符合嚴格的質量控製標準。J-引線的ICs常用於汽車電子裝配,而自上視AOI無法成功檢測,但加入側視攝像頭後可以看到。


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J-引線側視檢測


內(nei)部(bu)層(ceng)橋(qiao)和(he)翹(qiao)起(qi)引(yin)腳(jiao)等(deng)缺(que)陷(xian)一(yi)直(zhi)以(yi)來(lai)都(dou)難(nan)以(yi)通(tong)過(guo)傳(chuan)統(tong)的(de)自(zi)上(shang)而(er)下(xia)檢(jian)測(ce)方(fang)法(fa)檢(jian)測(ce)出(chu)來(lai)。然(ran)而(er),側(ce)視(shi)攝(she)像(xiang)頭(tou)已(yi)經(jing)證(zheng)明(ming)在(zai)揭(jie)示(shi)這(zhe)些(xie)隱(yin)藏(zang)缺(que)陷(xian)方(fang)麵(mian)非(fei)常(chang)高(gao)超(chao)。在(zai)醫(yi)療(liao)設(she)備(bei)電(dian)子(zi)製(zhi)造(zao)中(zhong),側(ce)視(shi)攝(she)像(xiang)頭(tou)揭(jie)示(shi)了(le)一(yi)個(ge)關(guan)鍵(jian)組(zu)件(jian)內(nei)部(bu)的(de)橋(qiao)梁(liang)。側(ce)視(shi)攝(she)像(xiang)頭(tou)的(de)另(ling)一(yi)個(ge)傑(jie)出(chu)應(ying)用(yong)是(shi)檢(jian)查(zha)填(tian)充(chong)物(wu),它(ta)在(zai)醫(yi)療(liao)設(she)備(bei)電(dian)子(zi)製(zhi)造(zao)中(zhong)被(bei)廣(guang)泛(fan)使(shi)用(yong)以(yi)保(bao)護(hu)產(chan)品(pin)免(mian)受(shou)衝(chong)擊(ji)、摔落和振動。檢查這些可以防止昂貴的生產延誤,並保證設備的安全性和可靠性。


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填充物檢查


側視與自上而下AOI對比

側視和上視AOI之間的基本區別在於它們的視角。上視AOI提供從上方的單一視角,而側視AOI采cai用yong多duo角jiao度du方fang法fa,從cong不bu同tong視shi角jiao捕bu捉zhuo圖tu像xiang。想xiang象xiang一yi下xia高gao密mi度du服fu務wu器qi主zhu板ban,側ce視shi攝she像xiang頭tou可ke以yi從cong不bu同tong的de角jiao度du精jing確que檢jian查zha微wei處chu理li器qi等deng精jing密mi組zu件jian的de複fu雜za焊han接jie點dian,確que保bao牢lao固gu可ke靠kao的de連lian接jie。多duo攝she像xiang頭tou側ce視shiAOI的主要優勢包括增強的缺陷檢測、減(jian)少(shao)誤(wu)報(bao)和(he)減(jian)少(shao)手(shou)工(gong)檢(jian)查(zha)。從(cong)多(duo)個(ge)視(shi)角(jiao)捕(bu)捉(zhuo)同(tong)一(yi)焊(han)接(jie)點(dian)的(de)圖(tu)像(xiang)增(zeng)加(jia)了(le)檢(jian)測(ce)微(wei)小(xiao)缺(que)陷(xian)的(de)可(ke)能(neng)性(xing)。係(xi)統(tong)可(ke)以(yi)通(tong)過(guo)分(fen)析(xi)不(bu)同(tong)角(jiao)度(du)的(de)圖(tu)像(xiang)來(lai)區(qu)分(fen)真(zhen)正(zheng)的(de)缺(que)陷(xian)和(he)由(you)於(yu)光(guang)照(zhao)或(huo)反(fan)射(she)引(yin)起(qi)的(de)不(bu)規(gui)則(ze)性(xing)。側(ce)視(shi)AOI提高的缺陷檢測準確性減少了手工檢查的需求,從而提高了一致性並降低了勞動力成本。


擁抱多攝像頭側視AOI:TR7500QEPlus

擁抱側視AOI的能力,TR7500QE Plus充分利用了電子製造業檢測的最新技術進展。它是最新的高速多角度3D AOI,以卓越的速度高達57平方厘米/秒,同時不影響成像質量。TR7500QEPlus通過多相照明和其他可選的3D感應技術(如3D激光模塊和3D焦點深度(DFF)技術)實現準確的3D輪廓測量。


這款經濟實惠的3D AOI平台更進一步,具備創新的AI驅動算法和增強的機械能力,從而確保高精度檢測。此外,TR7500QE Plus支持當前的智能工廠標準,如IPC-CFX、IPC-DPMX和TheHermes Standard(IPC-HERMES-9852)。


結論

引yin入ru多duo攝she像xiang頭tou側ce視shi檢jian測ce在zai電dian子zi製zhi造zao業ye中zhong的de革ge新xin性xing,其qi中zhong精jing度du和he質zhi量liang至zhi關guan重zhong要yao。它ta已yi經jing應ying對dui了le長chang期qi以yi來lai一yi直zhi困kun擾rao著zhe傳chuan統tong的de上shang視shi檢jian測ce方fang法fa的de隱yin藏zang缺que陷xian的de挑tiao戰zhan。


側視攝像頭在AOI中的重要性不可低估。它們提供全麵的視角、揭示隱藏的缺陷並提供輔助信息,使它們在複雜、高風險的應用中不可或缺。擁抱側視AOI,正如TR7500QE Plussuozhanshide,shiquebaogegexingyededianzishebeidekekaoxinghezhiliangdeguanjianyibu。zongzhi,zhengheduoshexiangtouceshijiancezaitishengdianzizhizaozhongdezhiliangkongzhiguochengzhongzhiguanzhongyao。

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TR7500QE Plus – 3D AOI

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