美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日發布了針對802.11ac WLAN以及低耗電藍牙技術的測試解決方案,結合了NI圖形化係統設計軟件和基於FPGA的PXI模塊化儀器,提供了可完全用戶自定義的高性能測試能力。這些測試解決方案結合NI提供的包括手機測試、導航儀測試和無線連接測試在內的其他解決方案,可以有效地幫助工程師在一個單一的高性能平台上全麵的測試他們的設備。
感言使用軟件定義的矢量信號收發儀和WLAN測試套件,與傳統的機架堆疊式測試儀器相比,我們提高了超過200倍的測試速度,同時還大大增加了測試項的覆蓋率 Doug Johnson高通Atheros公司工程總監表示。
產品特性: 在256 QAM測試方麵具有業內頂尖的-47dB RMS EVM,是產品測試和特性描述的理想選擇可以在NI PXIe-5644R VST的板載FPGA上實現測量和用戶自定義的算法,能夠完成快速的測量和實時的測試。
想了解更多內容,請參考下列頁麵:
有關 VST 的詳細信息請訪問 www.ni.com/vst/zhs
白皮書 http://www.ni.com/white-paper/14058/zhs
NI PXI Express 產品頁麵http://www.ni.com/80211ac
關於NI
自1976年以來,美國國家儀器,簡稱NI (www.ni.com)一直致力於為工程師和科學家提供各種工具來提高效率、加速創新和探索。 NI的圖形化係統設計方法為工程界提供了集成式的軟硬件平台,有助於加速測量和控製係統的開發。 長期以來,NI一直期望並努力通過自身的技術來改善社會的發展,確保客戶、員工、供應商及股東獲得成功。